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            低溫試驗箱的概述

            時間:2012/8/31 7:57:30
             

            低溫試驗箱適用于非散熱和散熱兩類試驗樣品。考核和確定電工、電子產品在低溫環境條件下貯存和使用的適應性。
            低溫試驗方法分為以下三類
            非散熱試驗樣品低溫試驗:--試驗Aa:溫度突變
            --試驗Ab:溫度漸變
            散熱試驗樣品低溫試驗:  --試驗Ad:溫度漸變
            低溫試驗方法通常用于條件試驗期間能達到溫度穩定的試驗樣品。試驗持續時間是從試驗樣品溫度達到穩定時開始計算的。在特殊情況下,如果條件試驗期間試驗樣品達不到溫度穩定,則試驗持續時間從試驗箱達到規定試驗溫度時開始計算。
            相關規范應規定:
            a)試驗箱內溫度變化速率;
            b)試驗樣品放入試驗箱的時間;
            c)試驗樣品在試驗條件下暴露試驗開始的時間;
            d)試驗樣品通電或加負載的時間。
            在這些條件下,相關規范的制定者可根據GB/T 2424.1-1989導則選定以上4個參數(以上條件下的修訂正在考慮之中)

             
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